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J-GLOBAL ID:201602249571674925   整理番号:16A0319687

DSGモデルに基づく自動テストケース生成法【Powered by NICT】

Automatic Test Case Generation Method Based on DSG Model
著者 (5件):
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巻: 36  号: 11  ページ: 2510-2514  発行年: 2015年 
JST資料番号: C2136A  ISSN: 1000-1220  CODEN: XWJXEH  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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プログラムに基づくテストケース生成の伝統的方法は,中型又は大型ソフトウェア試験の応用,テストケース,長い試験期間,貧弱なテスト品質などの不完全な被覆のような多くの問題を抱えている。これらの問題に取り組むため,本論文では,高品質と高被覆率を自動的に生成するテストケースを達成指向系列グラフ(DSG)に基づく自動テストケース生成法を提案した。UMLシーケンス図モデルに基づく方法は,その等価DSGモデルを定義し,DSGモデルにUMLシーケンス図モデルから自動変換アルゴリズムを提案した。DSGモデルに基づいて,テストケースを発生させるため,すべてのテスト経路は,layer-by-layer進行横断アルゴリズムを用いて得られた。あるシステムにおけるテスト結果は,この方法がテストケースを効果的に発生でき,より高い効率,テストカバレージを持つことを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
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