抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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変異分析は,ソフトウェア試験のための強力な技術であるが,計算的に高価であることが知られている。高計算コストの主な理由は,変異体の多くは冗長と,テストスイートの品質に寄与しないことである。冗長変異体を産生する回避する最も有望な方法の一つは,変異体間の包摂関係を同定することである,特にこれらが発生した。このような関係は,例えば,ROR演算子により生成された変異体の演算子レベルで同定されている。縮小セット非冗長の変異体はいくつかの最近の研究に使用されてきた強い変異を支持する少なくとも1つの変異試験ツールにおけるデフォルトオプションでもある。これは変異体間で同定され包含関係がいくつかの限られた誤差伝搬(企業変異)を必要とする弱い変異の強い変異または変異体との関連であるかどうかに関する質問を提起する。強いまたは企業変異との関連における包摂関係を調べるための実験研究を行った。完全セットに対して100%十分なされていないが,変異体の減少したセットに対して100%適切であることをテストスイートを生成することが可能であることを観察した。これは包摂関係は強いあるいは強固な変異に対しては成立しないことを示した。はこの挙動に及ぼすいくつかの例を提供し,根本原因を論じた。強いと企業変異はテストスイートと試験基準を評価するために頻繁に使用されるので,筆者らの所見が重要である。ROR変異体間の包摂関係は強いあるいは強固な突然変異の成立しないので,変異体または全セットの縮小セットを使用するかどうかの選択は,使用状況(すなわち,強い,または弱い変異)を考慮しないであるべきではない。冗長変異体はテストスイートのためのミューテーションスコアの過大評価を与えることができるように,強いあるいは企業変異と共に用いれば変異体の減少したセットを用いて過小評価を与えることができる。このような研究から報告された結果は,変異体の低下または完全なセットを用いたかどうか,研究者は強い,または弱い変異を用いればに関する情報を伴うべきである。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
