Hagner M. について
Univ. of Konstanz, Konstanz, Germany について
Fritz J. M. について
Univ. of Konstanz, Konstanz, Germany について
Alknes P. について
Eur. Organ. for Nucl. Res., CERN, Geneva, Switzerland について
Scheuerlein C. について
Eur. Organ. for Nucl. Res., CERN, Geneva, Switzerland について
Zielke L. について
Dept. of Microsyst. Eng., Univ. of Freiburg, Freiburg, Germany について
Vierrath S. について
Dept. of Microsyst. Eng., Univ. of Freiburg, Freiburg, Germany について
Thiele S. について
Dept. of Microsyst. Eng., Univ. of Freiburg, Freiburg, Germany について
Bordini B. について
Eur. Organ. for Nucl. Res., CERN, Geneva, Switzerland について
Ballarino A. について
Eur. Organ. for Nucl. Res., CERN, Geneva, Switzerland について
IEEE Transactions on Applied Superconductivity について
臨界電流密度 について
不均一性 について
等方性 について
キャラクタリゼーション について
フィラメント について
空隙率 について
屈曲度 について
微細構造 について
細線 について
超伝導 について
金属線 について
集束イオンビーム について
多孔性 について
ホウ化マグネシウム について
ナノトモグラフィー について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
超伝導材料 について
超伝導体の物性一般 について
Josephson接合・素子 について
FIB について
ナノトモグラフィー について
細線 について
多孔性 について
3次元解析 について