Perraud J. B. について
Bordeaux University, IMS, UMR CNRS 5218, 351 cours de la libe ́ration 33405 Talence, France について
Obaton A. F. について
Laboratoire National de Me ́trologie et d’Essais (LNE), Laboratoire Commun de Me ́trologie (LCM), 1 rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France について
Bou-Sleiman J. について
Bordeaux University, IMS, UMR CNRS 5218, 351 cours de la libe ́ration 33405 Talence, France について
Recur B. について
Noctylio SAS, 53 rue Professeur Daguin, 33800 Bordeaux, France について
Balacey H. について
Bordeaux University, IMS, UMR CNRS 5218, 351 cours de la libe ́ration 33405 Talence, France について
Darracq F. について
Bordeaux University, IMS, UMR CNRS 5218, 351 cours de la libe ́ration 33405 Talence, France について
Guillet J. P. について
Bordeaux University, IMS, UMR CNRS 5218, 351 cours de la libe ́ration 33405 Talence, France について
Mounaix P. について
Bordeaux University, IMS, UMR CNRS 5218, 351 cours de la libe ́ration 33405 Talence, France について
IEEE Conference Proceedings について
再構成 について
トモグラフィー について
テラヘルツ波 について
高分子 について
画像処理 について
生産技術 について
体積測定 について
三次元 について
キャラクタリゼーション について
品質管理 について
三次元データ について
実験研究 について
図形・画像処理一般 について
高分子 について
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特性評価 について
断層撮影 について
画像処理 について