Han Jun について
State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai, China について
Zhang Yicheng について
State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai, China について
Huang Shan について
State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai, China について
Chen Mengyuan について
State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai, China について
Zeng Xiaoyang について
State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai, China について
IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs について
誤り検出 について
監視装置 について
演算プロセッサ について
誤り率 について
雑音安定度 について
電圧変動 について
制約条件 について
ロバスト性 について
心電図 について
CMOS技術 について
低電力化 について
テストチップ について
ウェアラブル について
サブ閾値 について
誤り耐性 について
専用演算制御装置 について
信号理論 について
符号理論 について
面積効率 について
誤り耐性 について
超低電力 について
サブしきい値 について
ECG について
プロセッサ について