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J-GLOBAL ID：201602266679942146   整理番号：13A1262327

Generation of Multi-Frequency Test Vector for Analog Circuits Based on Testability Analysis

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著者 (5件)：
Wang Cheng

Wang Cheng について

(Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen)

Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen について

, 
Liu Zhiguo

Liu Zhiguo について

(China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Res. Inst., Guangzhou)

China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Res. Inst., Guangzhou について

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Ye Yun

Ye Yun について

(Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen)

Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen について

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Liang Hailang

Liang Hailang について

(Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen)

Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen について

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He Jin

He Jin について

(Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen)

Shenzhen SOC Key Lab.,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking Univ., Guangdong, Shenzhen について


資料名：
Weidianzixue  (Weidianzixue)

Weidianzixue について


巻： 42  号： 5  ページ： 737-740  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2386A  ISSN： 1004-3365  CODEN： WEIDFK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

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