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J-GLOBAL ID：201602269472733076   整理番号：16A0969954

EBSDを用いたイオン照射材料の硬さ試験機による微小圧痕周りの残留ひずみ分布解析

著者 (4件)： 関口亮 (北大 大学院) ,  柴山環樹 (北大 大学院) ,  近藤創介 (京大 エネ研) ,  檜木達也 (京大 エネ研)
資料名： 日本金属学会講演概要(CD-ROM)  (Collected Abstracts of Spring Meeting of the Japan Institute Metals and Materials (CD-ROM))
巻： 159th  ページ： ROMBUNNO.P82  発行年： 2016年09月07日 
JST資料番号： S0988B  ISSN： 2433-3093  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 電子回折 ,  *イオン照射 ,  材料 ,  *硬さ試験 ,  *試験装置 ,  圧痕 ,  *残留歪 ,  *歪分布 ,  表面改質 ,  ケイ素 ,  サファイア ,  単結晶 ,  塑性変形 ,  押込硬さ
準シソーラス用語： EBSD

分類 (1件)： 弾性力学一般  (HC02010M)

タイトルに関連する用語 (8件)： EBSD ,  イオン照射 ,  硬さ試験機 ,  微小 ,  圧痕 ,  残留ひずみ ,  分布 ,  解析