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J-GLOBAL ID：201602270369833606   整理番号：16A0713041

直接土壌サンプリング系に対する分割における試料量のスペクトルによる推定およびETV-ICP-OESによる銀ナノ粒子における痕跡の不純物の測定へのその応用

Spectrometric estimation of sample amount in aliquot for a direct solid sampling system and its application to the determination of trace impurities in silver nanoparticles by ETV-ICP-OES

著者 (4件)： Nakata Kenichi (Department of Chemistry, Graduate School of Science, Hiroshima University, 1-3-1 Kagamiyama, Higashihiroshima 739-8526, Japan) ,  Okamoto Yasuaki (Department of Chemistry, Graduate School of Science, Hiroshima University, 1-3-1 Kagamiyama, Higashihiroshima 739-8526, Japan) ,  Ishizaka Syoji (Department of Chemistry, Graduate School of Science, Hiroshima University, 1-3-1 Kagamiyama, Higashihiroshima 739-8526, Japan) ,  Fujiwara Terufumi (Department of Chemistry, Graduate School of Science, Hiroshima University, 1-3-1 Kagamiyama, Higashihiroshima 739-8526, Japan)
資料名： Talanta  (Talanta)
巻： 150  ページ： 434-439  発行年： 2016年04月01日 
JST資料番号： E0324A  ISSN： 0039-9140  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： タングステンボート炉蒸発器,タングステン試料キュベット,および誘導結合プラズマ(ICP)発光分析器にもとづいた方法を,銀ナノ粒子におけるシリコン,りん,および硫黄の直接測定用に開発した。提案した方法での重要な点は,各バッチにおけるすべての試料を蒸発させることであり,これが検体のみならず銀マトリックスの発光の同時測定を可能にする。さらに,銀ナノ粒子が十分純粋であるから,不純物の試料量への寄与が無視できる。したがって,この推定は微量天びんを用いた従来の重量測定法の代わりに,各分割中の試料量を測定するのに好適である。したがって,ETVデバイスに導入した試料量を推定するための面倒な重量測定法が不要となる。さらなる利点は前処理および/または予備消化が必要でない。試料スループットは1時間あたり約35バッチである。銀ナノ粒子(乾燥粉末)中のシリコン,りん,および硫黄の検出限界はそれぞれ,15,4.2,および62μgg^-1である。乾燥粒子および懸濁溶液の両者の,種々の銀ナノ粒子に対する分析結果を記述し,これらの値を,微量天びんを用いた従来の重量測定法から得た値と比較した。この方法論は銀ナノ粒子の迅速なスクリーニングおよび精確な分析に,特に,工業的応用に有用である。Copyright 2016 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 土壌分析 ,  分割 ,  *ナノ粒子 ,  痕跡分析 ,  *不純物 ,  蒸発器 ,  タングステン ,  *ケイ素 ,  *リン ,  *硫黄 ,  同時定量 ,  微量天秤 ,  蒸発 ,  銀 ,  *ICP-AES分析 ,  *分光光度定量 ,  *銀ナノ粒子 ,  電熱蒸発
準シソーラス用語： 電気加熱気化

著者キーワード (6件)： ETV-ICP-AES ,  Direct solid sampling ,  Nanoparticle ,  Tungsten boat furnace vaporiser ,  Spectrometric estimation of sample amount ,  Determination of impurities

分類 (2件)： 有機物質中の元素の物理分析  (CC03032S) ,  土壌化学  (FB04040C)

タイトルに関連する用語 (11件)： 土壌 ,  サンプリング ,  試料 ,  スペクトル ,  推定 ,  ETV ,  ICP-OES ,  銀ナノ粒子 ,  痕跡 ,  不純物 ,  応用