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J-GLOBAL ID：201602272930425429   整理番号：16A0482318

モアレ法によるマイクロスケールでの変位ひずみ分布測定

著者 (5件)： 高下陽右 (東京理大) ,  荻原慎二 (東京理大) ,  WANG Qinghua (産業技術総合研) ,  李志遠 (産業技術総合研) ,  津田浩 (産業技術総合研)
資料名： 応力・ひずみ測定と強度評価シンポジウム講演論文集  (応力・ひずみ測定シンポジウム講演論文集)
巻： 47th  ページ： 61-66  発行年： 2016年01月09日 
JST資料番号： G0550B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *変位測定 ,  *歪測定 ,  *モアレ ,  *歪分布 ,  アルミニウム ,  試験片 ,  引張試験 ,  測定精度 ,  光学顕微鏡 ,  非接触測定 ,  Moire法 ,  マイクロスケール ,  レーザ顕微鏡 ,  *計測

分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (4件)： モアレ法 ,  マイクロスケール ,  変位 ,  ひずみ分布