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J-GLOBAL ID：201602273126882993   整理番号：16A1201963

すれすれ入射X線回折で研究したチオール自己集合単分子層修飾Auナノクラスタのサイズ依存的格子定数変化

Size dependent lattice constant change of thiol self-assembled monolayer modified Au nanoclusters studied by grazing incidence x-ray diffraction

著者 (9件)： Kondo Toshihiro (Global Research Center for Environmental and Energy Based on Nanomaterials Science (GREEN), National Institute for Materials Science (NIMS), Tsukuba 305-0044, Japan) ,  Kondo Toshihiro (Graduate School of Humanities and Sciences, Ochanomizu University, Tokyo 112-8610, Japan) ,  Masuda Takuya (Global Research Center for Environmental and Energy Based on Nanomaterials Science (GREEN), National Institute for Materials Science (NIMS), Tsukuba 305-0044, Japan) ,  Harada Motoko (Division of Chemistry, Graduate School of Science, Hokkaido University, Sapporo 060-0810, Japan) ,  Sakata Osami (Synchrotron X-ray Station at SPring-8, Research Network and Facility Service Division, National Institute for Materials Science (NIMS), Hyogo 679-5148, Japan) ,  Katsuya Yoshio (Synchrotron X-ray Station at SPring-8, Research Network and Facility Service Division, National Institute for Materials Science (NIMS), Hyogo 679-5148, Japan) ,  Uosaki Kohei (Global Research Center for Environmental and Energy Based on Nanomaterials Science (GREEN), National Institute for Materials Science (NIMS), Tsukuba 305-0044, Japan) ,  Uosaki Kohei (Division of Chemistry, Graduate School of Science, Hokkaido University, Sapporo 060-0810, Japan) ,  Uosaki Kohei (International Center for Materials Nanoarchitectonics (MANA), National Institute for Materials Science (NIMS), Tsukuba 305-0044, Japan)
資料名： Electrochemistry Communications  (Electrochemistry Communications)
巻： 65  ページ： 35-38  発行年： 2016年04月 
JST資料番号： W1133A  ISSN： 1388-2481  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： すれすれ入射X線回折(GIXRD)を用いて,各電気化学処理の後Au(111)面上で集合したチオール自己集合単分子層(SAM)修飾金ナノクラスタ(GNC)のサイズおよび格子定数を調べた。電位を0と1.3V(対Ag/AgCl)の間でスイープしたとき,GNCのサイズと格子定数は,SAMの酸化的脱離のためわずかに減少した。電位サイクルの数が増加するにつれ,GNCのサイズは,凝集のため増加し始めた。一方,格子定数は,GNCからのSAMのさらなる脱離のため減少し続けた。SAMのほとんどがGNCから除かれた後,サイズと格子定数は電位サイクルの数とともに単調に増加した。GNCが~35Åより小さいときサイズ依存的な格子定数の変化を観察した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *X線回折 ,  *単分子層 ,  *チオール ,  *ナノクラスタ ,  *金 ,  *依存性 ,  *格子定数 ,  *長さ ,  電位 ,  脱着 ,  サイクル ,  凝集
準シソーラス用語： *すれすれ入射X線回折 ,  *自己集合単分子層 ,  *金ナノクラスタ ,  *サイズ依存性 ,  Au(111) ,  *サイズ ,  脱離

著者キーワード (4件)： Gold nanoclusters (GNCs) ,  Size dependence of lattice constant of GNCs ,  Grazing incidence x-ray diffraction (GIXRD) ,  Self-assembled monolayer (SAM)

分類 (5件)： 脂肪族チオール  (CF03120R) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  電気化学反応  (CB07050F) ,  金属,合金の電気分析  (CC05040J) ,  金属の結晶構造  (BK06000V)

タイトルに関連する用語 (9件)： すれすれ入射X線回折 ,  研究 ,  チオール ,  自己集合単分子層 ,  修飾 ,  Au ,  ナノクラスタ ,  サイズ ,  格子定数