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J-GLOBAL ID：201602276180158040   整理番号：13A0583992

Dynamic analysis of tapping mode atomic force microscopy under random noise excitation

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著者 (4件)：
Wu Jie

Wu Jie について

(State Key Laboratoty of Mechanical System and Vibration,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai)

State Key Laboratoty of Mechanical System and Vibration,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai について

, 
Zhang Wenming

Zhang Wenming について

(State Key Laboratoty of Mechanical System and Vibration,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai)

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Meng Guang

Meng Guang について

(State Key Laboratoty of Mechanical System and Vibration,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai)

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He Yuhang

He Yuhang について

(State Key Laboratoty of Mechanical System and Vibration,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai)

State Key Laboratoty of Mechanical System and Vibration,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai について


資料名：
Zhendong yu Chongji  (Zhendong yu Chongji)

Zhendong yu Chongji について


巻： 31  号： 3  ページ： 8-12,42  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2157A  ISSN： 1000-3835  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

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