Simsek Sanli E. について
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Solid State Research, Heisenbergstr. 1, Stuttgart 70569, Germany について
Ramasse Q. M. について
SuperSTEM Laboratory, SciTech Daresbury Campus, Daresbury, Keckwick Lane WA4 4AD, United Kingdom について
Sigle W. について
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Solid State Research, Heisenbergstr. 1, Stuttgart 70569, Germany について
Abou-Ras D. について
Helmholtz-Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, Berlin 14109, Germany について
Mainz R. について
Helmholtz-Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, Berlin 14109, Germany について
Weber A. について
Helmholtz-Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, Berlin 14109, Germany について
Kleebe H.-J. について
Institut fuer Angewandte Geowissenschaften, Technische Universitaet Darmstadt, Schnittspahnstr. 9, Darmstadt 64287, Germany について
van Aken P. A. について
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Solid State Research, Heisenbergstr. 1, Stuttgart 70569, Germany について
Journal of Applied Physics について
太陽電池 について
インジウム化合物 について
ガリウム化合物 について
セレン化物 について
銅化合物 について
半導体薄膜 について
格子欠陥 について
元素 について
再分布 について
同時蒸着 について
吸収体 について
微細構造 について
化学組成 について
欠陥密度 について
透過型走査電子顕微鏡 について
収差補正 について
高分解能電子顕微鏡 について
透過型電子顕微鏡 について
電子エネルギー損失分光法 について
長さ について
化学的性質 について
双晶境界 について
結晶粒界 について
転位【結晶】 について
化合物半導体 について
CIGS について
拡張欠陥 について
原子スケール について
構造欠陥 について
高分解能透過型電子顕微鏡 について
転位コア について
半導体薄膜 について
半導体の格子欠陥 について
太陽電池 について
Cu について
Ga について
薄膜 について
構造欠陥 について
元素 について
再分布 について