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J-GLOBAL ID：201602280033338749   整理番号：16A0768681

テラヘルツ周波数における導波管VNA測定のための不確実性解析の改善【Powered by NICT】

Improvement of uncertainty analysis for waveguide VNA measurement at terahertz frequency

著者 (5件)： Horibe Masahiro (Research Institute of Physical Measurement, National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology) ,  Kishikawa Ryoko (Research Institute of Physical Measurement, National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology) ,  Sakamaki Ryo (Research Institute of Physical Measurement, National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology) ,  Kato Yuto (Research Institute of Physical Measurement, National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology) ,  Kon Seitaro (Research Institute of Physical Measurement, National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： CPEM 2016  ページ： 1-2  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,750GHzから1.1THzまでの周波数範囲で導波路デバイスの散乱パラメータ測定のための新しい測定の不確実性解析について述べた。ベクトルネットワークアナライザ(VNA)の測定不確実性は,一次標準と再現性の不確実性[1]から解析した。しかし,110GHzを超える導波路VNA測定の推定不確実性はテラヘルツ周波数での二回の測定システムによる比較の場合に過小評価された。他の不確実性の寄与はVNAと周波数拡張モジュール間のIFケーブルからの結合トルク偏差と効果である。新しい不確実性モデルを用いて,二つの系からの結果は,不確実性の範囲内で一致した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ケーブル ,  計測システム ,  *導波路 ,  トルク ,  再現性 ,  *テラヘルツ波 ,  モジュール ,  *不確実性 ,  *周波数
準シソーラス用語： 過小評価 ,  ベクトルネットワークアナライザ ,  測定の不確かさ ,  Sパラメータ ,  *不確実性解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (3件)： テラヘルツ ,  導波管 ,  不確実性解析