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J-GLOBAL ID：201602283032586420   整理番号：16A0445493

透過型電子顕微鏡を用いた電流印加による転位移動の多面方位観察

著者 (4件)： 小島章裕 (名古屋大 大学院工学研究科) ,  細井厚志 (早稲田大) ,  森田康之 (名古屋大) ,  JU Yang (名古屋大)
資料名： 日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会年次大会(CD-ROM))
巻： 2015  ページ： ROMBUNNO.G0300105  発行年： 2015年09月12日 
JST資料番号： X0587C  ISSN： 2424-2667  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 疲労破壊対策として,電流印加による疲労寿命向上技術が研究されている。この技術では電流印加による転位の変化が疲労寿命に影響を及ぼすと考えられているが詳細は明らかではない。我々はこれまでに,透過型電子顕微鏡を用いた電流印加前後の転位観察により,電流方向に依存した転位の移動を確認した。しかし,転位の移動は,試料の変形などによって面方位のずれなどが生じたために起こる見かけ上の現象である可能性がある。本研究では,多面方位観察を行い,転位の移動は電流印加に起因しており,見かけ上の現象ではないことを確認した。(著者抄録)

シソーラス用語： オーステナイト系ステンレス鋼 ,  電流 ,  電圧 ,  *転位【結晶】 ,  *結晶構造 ,  疲れ寿命 ,  電子顕微鏡観察 ,  金属結晶
準シソーラス用語： SUS316 ,  電流印加 ,  印加 ,  *転位移動 ,  *多面方位観察 ,  透過型電子顕微鏡観察 ,  *転位構造

分類 (1件)： 金属の結晶構造  (BK06000V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 透過型電子顕微鏡 ,  印加 ,  転位 ,  方位 ,  観察