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J-GLOBAL ID：201602285114270912   整理番号：16A0316828

LEOビーコン測定に基づいた新しい電離層断層撮影アルゴリズム【Powered by NICT】

A new ionospheric tomography algorithm based on LEO beacon measurement

著者 (6件)： Ou Ming (School of Electronic Information,Wuhan Univ., Wuhan) ,  Zhen Weimin (China Res. Inst. of Radiowave Propagation, Qingdao) ,  Liu Yiwen (China Res. Inst. of Radiowave Propagation, Qingdao) ,  Deng Zhongxin (China Res. Inst. of Radiowave Propagation, Qingdao) ,  Xiong Wen (China Res. Inst. of Radiowave Propagation, Qingdao) ,  Xu Jisheng (School of Electronic Information,Wuhan Univ., Wuhan)
資料名： Diqiu Wuli Xuebao  (Diqiu Wuli Xuebao)
巻： 58  号： 10  ページ： 3469-3480  発行年： 2015年 
JST資料番号： B0627A  ISSN： 0001-5733  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 低高度地球軌道(LEO)ビーコンを用いて,電離層モニタリングのための最も重要な手段の1つであり,それは,電離層トモグラフィー法による電離層電子密度の局所的分布を復元することができる。これはLEOビーコンの特性に従って関数ベースモデルとボクセルベースのモデルを本論文で提案した新しいアルゴリズム。異なる相対的全電子数(TEC)は電離層トモグラフィーのためのデータ源として考慮した。関数ベースモデルに由来する電離層電子密度の初期分布は,電離層電子密度の分布を得るためにボクセルモデルによれば二次逐次再構成プロセスで使われるであろう。関数ベースモデルとボクセルモデルの利点は効果的に背景電離圏に対する電離層トモグラフィーの依存性を減少させ,小さなスケールの電離層擾乱構造をも再構成するこの新しいアルゴリズムに結合した。シミュレーションから導いたN_mF_2の絶対平均誤差,RMSと相対誤差は低緯度電離圏トモグラフィーネットワーク(LITN)観察のCT結果から誘導された1.6×10~(11)el m~(-3)2.3×10~(11)el m~(-3)および16.2%と比べそれぞれ0.89×10~(11)el m~(-3),1.00×1011el m~(-3)および7.8%であった。LITNから数値シミュレーションと実際のLEOビーコン観測のインバージョンの結果は,この新しいアルゴリズムの実行可能性と信頼性を検証した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電子密度 ,  電離層擾乱 ,  トモグラフィー ,  信頼性 ,  アルゴリズム ,  *ビーコン ,  低緯度 ,  低高度軌道 ,  再構成 ,  *電離層
準シソーラス用語： 数値シミュレーション ,  相対誤差 ,  全電子数 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電離層・熱圏  (DC04050O)

タイトルに関連する用語 (5件)： LEO ,  ビーコン ,  電離層 ,  断層撮影 ,  アルゴリズム