文献

J-GLOBAL ID：201602288204383855   整理番号：16A0446511

引張負荷下の透明導電膜における損傷蓄積過程のAEモニタリング

著者 (6件)： 若山修一 (首都大学東京 大学院理工学研究科) ,  會澤修太郎 ,  湯澤亮 ,  坂井建宣 (埼玉大) ,  池上和志 (桐蔭横浜大 大学院工学研究科) ,  宮坂力
資料名： 日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会年次大会(CD-ROM))
巻： 2015  ページ： ROMBUNNO.S0420102  発行年： 2015年09月12日 
JST資料番号： X0587C  ISSN： 2424-2667  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ITOを蒸着したPEN基材の透明導電膜の引張試験を行い,ITOの損傷蓄積過程のAEモニタリングを行った。電気抵抗も同時に計測したが,電気抵抗の上昇よりも早くAE法で損傷が検出できた。また,ITOにおけるき裂の発生挙動をその場観察し,き裂が飽和する際のひずみおよび飽和き裂間隔を計測し,フラグメンテーション試験の原理を応用して,界面せん断強度の評価を行った。乾燥および電解液の湿潤環境でこれらの結果を比較したところ,界面せん断強度は湿潤環境で低下することが明らかになった。(著者抄録)

シソーラス用語： *透明導電膜 ,  *アコースティックエミッション ,  *監視 ,  酸化インジウムスズ ,  ポリエチレンナフタレート ,  *引張試験 ,  電気抵抗 ,  その場観察 ,  歪 ,  *亀裂 ,  剪断強さ ,  電解液 ,  湿潤 ,  *耐久性 ,  被覆
準シソーラス用語： 色素増感型太陽電池 ,  *界面剪断強度

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (7件)： 引張 ,  透明導電膜 ,  損傷 ,  蓄積 ,  過程 ,  AE ,  モニタリング