特許

J-GLOBAL ID：201603000065035783

渦電流による金属製品の評価方法

発明者： 佐々木 敏彦
出願人/特許権者： 国立大学法人金沢大学
代理人 (1件)： 大谷 嘉一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-158958
公開番号（公開出願番号）：特開2016-035434
出願日： 2014年08月04日
公開日（公表日）： 2016年03月17日
要約：

【課題】評価精度が高く、且つ測定が容易な渦電流による金属製品の評価方法の提供を目的とする。【解決手段】励磁コイルと検出コイルとからなる貫通型渦電流センサの内部に標準試料を配置し、励磁コイルに所定の励磁周波数を印加し、標準試料を前記貫通型渦電流センサの軸方向又は/及び軸廻り方向に変化させつつ、検出コイルにて検出した電磁気的信号の変化における実成分(ΔXn)と虚成分(ΔYn)とからΔXn-ΔYn線図を得るステップと、前記ΔXn-ΔYn線図において全体の平均から求めた直線に対する各測定点の残差の標準偏差σを得るステップと、前記標準偏差σに対する、評価試料から得られた実成分(ΔXm)と虚成分(ΔYm)とから求めたΔXm-ΔYm線図にて得られる対応測定値の比をCEPとし、当該CEPの値に基づいて評価することを特徴とする。【選択図】 図10

請求項（抜粋）：

励磁コイルと検出コイルとからなる貫通型渦電流センサの内部に標準試料を配置し、 励磁コイルに所定の励磁周波数を印加し、 標準試料を前記貫通型渦電流センサの軸方向又は/及び軸廻り方向に変化させつつ、検出コイルにて検出した電磁気的信号の変化における実成分(ΔXn)と虚成分(ΔYn)とからΔXn-ΔYn線図を得るステップと、 前記ΔXn-ΔYn線図において全体の平均から求めた直線に対する各測定点の残差の標準偏差σを得るステップと、 前記標準偏差σに対する、評価試料から得られた実成分(ΔXm)と虚成分(ΔYm)とから求めたΔXm-ΔYm線図にて得られる対応測定値の比をCEPとし、 当該CEPの値に基づいて評価することを特徴とする金属製品の評価方法。

IPC (1件)：

G01N 27/90

FI (1件)：

G01N27/90

Fターム (10件)：

2G053AA02 ,  2G053AA11 ,  2G053AA14 ,  2G053AB21 ,  2G053BA02 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CC04 ,  2G053DA02 ,  2G053DA07