特許
J-GLOBAL ID:201603000245153288
ミラーの表面形態を補正する方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
杉村 憲司
, 下地 健一
, 坪内 伸
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-558356
特許番号:特許第6000291号
出願日: 2012年02月27日
請求項(抜粋):
【請求項1】 5nm〜30nmの範囲の作動波長を有する放射線を反射するミラー(1、201、301、401)の表面形態を補正する方法であって、前記ミラーは基板(3、203)を備える方法において、少なくとも以下のステップ:
・前記ミラー(1、201、301、401)の表面形態を補正するための層厚変動(21)を有する補正層(13、213)を施すステップと、
・第1層群(19、219)を前記補正層(13、213)に施すステップであり、前記第1層群(19、219)は、上下に交互配置した複数の第1層(9、209)及び第2層(11、211)を含み、前記作動波長を有する放射線に対する前記第1層(9、209)の屈折率は、前記作動波長を有する放射線の前記第2層(11、211)の屈折率よりも大きいステップと
を含み、前記ミラー(1、201、301、401)の表面形態を補正するために前記層厚変動(21)を有する前記補正層(13、213)を施すステップを、以下のステップ:
・反応ガス(15、215)を含む雰囲気に前記ミラー(1、201、301、401)を導入するステップと、
・場所依存性層厚変動(21)を有する補正層(13、213)が前記ミラー(1、201、301、401)の照射面上で成長するように、場所依存性放射エネルギー密度を有する補正放射線(17、217、317)を前記ミラー(1、201、301、401)に施すステップと
により行う方法。
IPC (4件):
G03F 7/20 ( 200 6.01)
, G02B 5/10 ( 200 6.01)
, C23C 16/32 ( 200 6.01)
, G02B 17/06 ( 200 6.01)
FI (4件):
G03F 7/20 503
, G02B 5/10 C
, C23C 16/32
, G02B 17/06
引用特許:
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