特許
J-GLOBAL ID：201603000275776034

プリンタにおける基板分離に対する印字ヘッドの測定のためのテストパターンの生成を行うシステムおよび方法

発明者：
ハワード・エイ・ミーゼス

ハワード・エイ・ミーゼス について

, 
ディヴィッド・エイ・マンテル

ディヴィッド・エイ・マンテル について


出願人/特許権者：
ゼロックス コーポレイション

ゼロックス コーポレイション について


代理人 (1件)： 特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-003661
公開番号（公開出願番号）：特開2016-135595
出願日： 2016年01月12日
公開日（公表日）： 2016年07月28日
要約：
【課題】三次元物体プリンタにおいて、印字ヘッドと支持部材または物体との間の分離を特定および制御するための改良されたシステムおよび方法の提供。【解決手段】第1のテストパターンの画像データにおけるマークのクロスプロセス方向オフセットを特定すること、および、印字ヘッドの排出器の一部分のみを使用し、排出器の一部分における少なくとも1つの排出器の別のクロスプロセス方向オフセットより小さい、クロスプロセス方向オフセットを伴う、印字ヘッドの少なくとも1つの排出器からのマークを含まない、印字ヘッドに対する第2のテストパターンを生成すること、を含む三次元物体プリンタを動作させるシステム。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
コントローラで、印字ヘッドの複数の排出器を、保存された画像データを参照して動作させて、クロスプロセス方向に配置される第1の複数のマークを含む第1の所定のテストパターンを基板の表面上に形成すること、 画像センサで、前記第1の複数のマークの第1の生成画像データを前記基板上に生成すること、 前記コントローラで、前記第1の所定のテストパターンの前記第1の生成画像データにおける前記第1の複数のマークに対する複数のクロスプロセス方向オフセットを特定することであって、各クロスプロセス方向オフセットは、前記第1の生成画像データにおけるマークの位置と、第1の所定のテストパターンを形成するために参照される、前記保存された画像データにおける前記マークの所定の位置と、の間の差を参照して特定される、特定すること、 前記コントローラで、前記印字ヘッドの前記複数の排出器の一部分のみにより形成され、前記複数の排出器のうちの少なくとも1つの他の排出器により形成されるマークを伴わない、前記クロスプロセス方向に配置される第2の複数のマークに対応する第2のテストパターンデータを生成することであって、前記マークは、前記印字ヘッドの前記複数の排出器の前記一部分における少なくとも1つの排出器の別の特定されたクロスプロセス方向オフセットより小さい、特定されたクロスプロセス方向オフセットを有する、前記少なくとも1つの他の排出器に対応する、生成すること、および、 前記コントローラで、前記第2のテストパターンデータをメモリに、前記複数の前記排出器の前記一部分を動作させて、前記印字ヘッドと前記基板との間のZ軸距離を特定できるようにするために保存することであって、前記Z軸は、前記基板の前記表面と垂直である、保存すること、 を備える、三次元物体プリンタを動作させる方法。
IPC (4件)：
B29C 67/00 ,  B33Y 10/00 ,  B33Y 50/02 ,  B33Y 30/00
FI (4件)：
B29C67/00 ,  B33Y10/00 ,  B33Y50/02 ,  B33Y30/00
Fターム (6件)：
4F213WA25 ,  4F213WB01 ,  4F213WL02 ,  4F213WL32 ,  4F213WL74 ,  4F213WL85
引用特許：
審査官引用 (4件)
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