特許

J-GLOBAL ID：201603000366685198

光量測定装置及び光量測定方法

発明者： 藤森 昭一 ,  望月 学
出願人/特許権者： パイオニア株式会社 ,  株式会社パイオニアFA
代理人 (1件)： 特許業務法人 エビス国際特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012069895
公開番号（公開出願番号）：WO2014-020768
出願日： 2012年08月03日
公開日（公表日）： 2014年02月06日
要約：

簡単な構成で高速かつ高精度な測定を実現できる光量測定装置を提供する。 光量測定装置3は、放射状に光を発光する発光ダイオード101を載置するテーブル103と、発光ダイオード101に電力を供給して発光ダイオード101を発光させるためのプローブ針109と、記発光ダイオード101から発光された光を受光し、その光量を測定する受光モジュール1と、を備える。テーブル103は、正反射面の反射平面を具備する略一様な平板形状の反射板103bを有し、発光ダイオード101は、反射板103bの反射平面上に載置される。

請求項（抜粋）：

放射状に光を発光する発光ダイオードを載置するテーブルと、 前記発光ダイオードに電力を供給して該発光ダイオードを発光させるためのプローブと、 前記発光ダイオードから発光された光を受光し、その光量を測定する受光部と、 を備え、 前記テーブルは、高反射率特性の平面を有し、 前記発光ダイオードは、前記高反射率特性の平面上に載置される 発光ダイオードの光量測定装置。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ,  G01J 1/00 ,  H01L 33/00

FI (4件)：

G01M11/00 T ,  G01J1/00 C ,  G01J1/00 E ,  H01L33/00 K

Fターム (11件)：

2G065AA02 ,  2G065AA11 ,  2G065AB28 ,  2G065BA09 ,  2G065BB02 ,  2G065BB25 ,  2G086EE03 ,  5F141AA46 ,  5F141CA76 ,  5F241AA46 ,  5F241CA76