特許
J-GLOBAL ID:201603000819398454
非破壊試験システムのための基準速度測定
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
荒川 聡志
, 小倉 博
, 黒川 俊久
, 田中 拓人
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-550441
公開番号(公開出願番号):特表2016-508222
出願日: 2013年12月12日
公開日(公表日): 2016年03月17日
要約:
システムは、NDTプローブおよびプロセッサを有する非破壊試験(NDT)システムを含む。NDTプローブは、試験センサおよび運動センサを含む。試験センサは、検査領域からセンサデータを取り込むように構成され、運動センサは、NDTプローブが検査領域に対して移動する測定速度を検出するように構成される。プロセッサは、測定速度と基準速度範囲との間の速度比較を決定するように構成される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
非破壊試験(NDT)システム(10)を含み、前記非破壊試験(NDT)システム(10)は、
試験センサ(252)および運動センサ(276)を含むNDTプローブ(250)であって、前記試験センサ(252)は、検査領域(254)からセンサデータ(174)を取り込むように構成され、前記運動センサ(276)は、前記NDTプローブ(250)が前記検査領域(254)に対して移動する測定速度を検出するように構成される、NDTプローブ(250)と、
前記測定速度と基準速度範囲との間の速度比較を決定するように構成されるプロセッサ(15、19、23)と、を含む、システム。
IPC (4件):
G01N 27/90
, G01N 29/265
, G01N 21/88
, G01N 23/04
FI (4件):
G01N27/90
, G01N29/265
, G01N21/88 Z
, G01N23/04
Fターム (28件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001HA13
, 2G001KA03
, 2G001KA04
, 2G047AC05
, 2G047BC07
, 2G047EA12
, 2G047EA16
, 2G047GA06
, 2G047GA19
, 2G047GH12
, 2G047GH19
, 2G047GJ02
, 2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051AC15
, 2G051EA21
, 2G053AA11
, 2G053AB21
, 2G053BA21
, 2G053BA24
, 2G053CB29
, 2G053DA01
, 2G053DB06
, 2G053DB19
, 2G053DB28
引用特許: