特許

J-GLOBAL ID：201603001058259141

光波面補償装置および光波面補償方法

発明者： 西村 想 ,  青木 一彦 ,  柳田 美穂
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (2件)： 宮崎 昭夫 ,  緒方 雅昭
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013061263
公開番号（公開出願番号）：WO2014-041839
出願日： 2013年04月16日
公開日（公表日）： 2014年03月20日
要約：

光波面補償装置は、光ビームの波面を変調して変調光ビームを生成する波面変調手段と、変調光ビームの波面を測定する波面測定手段と、変調光ビームの波面の目標となる目標波面を特定する目標波面特定手段と、波面測定手段の測定結果と目標波面との差が小さくなるように波面変調手段を制御する制御手段と、を含み、目標波面特定手段は、目標波面を変更するための参照情報に基づいて目標波面を変更する。

請求項（抜粋）：

光ビームの波面を変調して変調光ビームを生成する波面変調手段と、 前記変調光ビームの波面を測定する波面測定手段と、 前記変調光ビームの波面の目標となる目標波面を特定する目標波面特定手段と、 前記波面測定手段の測定結果と前記目標波面との差が小さくなるように、前記波面変調手段を制御する制御手段と、を含み、 前記目標波面特定手段は、前記目標波面を変更するための参照情報に基づいて前記目標波面を変更する、光波面補償装置。

IPC (2件)：

G02F 1/01 ,  G02B 26/06

FI (2件)：

G02F1/01 D ,  G02B26/06

Fターム (26件)：

2H141MA27 ,  2H141MB23 ,  2H141ME01 ,  2H141ME06 ,  2H141ME09 ,  2H141ME11 ,  2H141ME18 ,  2H141ME24 ,  2H141MG01 ,  2H141MG05 ,  2H141MZ13 ,  2K102AA21 ,  2K102BA05 ,  2K102BB04 ,  2K102BB08 ,  2K102BC04 ,  2K102BD09 ,  2K102CA00 ,  2K102DB08 ,  2K102DC09 ,  2K102DD02 ,  2K102EA25 ,  2K102EB02 ,  2K102EB12 ,  2K102EB14 ,  2K102EB22