特許

J-GLOBAL ID：201603001817753962

質量分析装置および質量分析方法

発明者： 坂本 哲夫
出願人/特許権者： 学校法人 工学院大学
代理人 (1件)： 特許業務法人太陽国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-149023
公開番号（公開出願番号）：特開2016-024992
出願日： 2014年07月22日
公開日（公表日）： 2016年02月08日
要約：

【課題】質量分析時における放射性セシウムとバリウムなどの他の元素との干渉を抑制し、放射性セシウムの分離検出および分布可視化を実現することができる質量分析装置および質量分析方法を提供する。【解決手段】放射性セシウムを含む試料が配置される試料台と、前記試料台に配置された試料にイオンビームを照射し、試料から放射性セシウムを放出させるイオンビーム源と、放射性セシウムを共鳴イオン化させる波長を有し、かつ、バリウムのイオン化が生じないレーザ強度である、パルス化されたレーザ光を、放出された放射性セシウムに照射し、放射性セシウムをイオン化させるレーザ光源と、イオン化された放射性セシウムを質量分析する分析部と、を備える質量分析装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

放射性セシウムを含む試料が配置される試料台と、 前記試料台に配置された試料にイオンビームを照射し、試料から放射性セシウムを放出させるイオンビーム源と、 放射性セシウムを共鳴イオン化させる波長を有し、かつ、バリウムのイオン化が生じないレーザ強度である、パルス化されたレーザ光を、放出された放射性セシウムに照射し、放射性セシウムをイオン化させるレーザ光源と、 イオン化された放射性セシウムを質量分析する分析部と、 を備える質量分析装置。

IPC (1件)：

H01J 49/10

FI (1件)：

H01J49/10

Fターム (7件)：

5C038GG07 ,  5C038GG13 ,  5C038GH01 ,  5C038GH09 ,  5C038GH10 ,  5C038GH11 ,  5C038GH17