特許

J-GLOBAL ID：201603003609257504

3次元測定方法、装置及びシステム、並びに画像処理装置

発明者： 増田 智紀
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (1件)： 小林 和憲
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013066855
公開番号（公開出願番号）：WO2014-002849
出願日： 2013年06月19日
公開日（公表日）： 2014年01月03日
要約：

容易かつ高精度に3次元測定を行う。 3次元測定装置(10)は、基線長BLの第1撮像部(11)及び第2撮像部(12)と、画像から特徴点を検出する特徴点検出部(21)と、特徴点の対応点を検出する対応点検出部(22)と、回転行列算出部(23)と、並進行列算出部(24)と、並進距離算出部(25)と、3次元データ算出部(26)と、を備える。回転行列算出部(23)は、特徴点と対応点に基づき、第1撮影位置を基準として、第2撮影位置の回転方向及び回転量を表す回転行列を算出する。並進行列算出部(24)は、特徴点と対応点に基づき、第1撮影位置を基準として、第2撮影位置の並進移動方向を表す並進行列を算出する。並進距離算出部(25)は、回転行列及び並進行列と、基線長に基づいて、第1撮影位置を基準とした第2撮影位置の並進距離を算出する。3次元データ算出部(26)は、並進距離を用いて3次元データを算出する。

請求項（抜粋）：

被写体を撮像する第1撮像部と、 前記第1撮像部に対して所定の基線長をおいて配置され、前記第1撮像部が撮像する前記被写体の少なくとも一部を含む範囲を撮像する第2撮像部と、 第1撮影位置において前記第1撮像部及び前記第2撮像部によって前記被写体を撮像して得た2枚の画像のうち少なくともいずれか一方の画像から複数の特徴点を検出する特徴点検出部と、 前記第1撮影位置とは異なる第2撮影位置において前記第1撮像部及び前記第2撮像部によって前記被写体を撮像して得た2枚の画像の各々について、前記特徴点に対応する対応点を検出する対応点検出部と、 前記特徴点と前記対応点に基づき、前記第1撮影位置における前記第1撮像部または前記第2撮像部の向きを基準として、前記第2撮影位置における前記第1撮像部の回転方向及び回転量を表す第1回転行列と、前記第2撮像部の回転方向及び回転量を表す第2回転行列を算出する回転行列算出部と、 前記特徴点と前記対応点に基づき、前記第1撮影位置における前記第1撮像部または前記第2撮像部の位置を基準として、前記第2撮影位置における前記第1撮像部の並進移動方向を表す第1並進行列と、前記第2撮像部の並進移動方向を表す第2並進行列を算出する並進行列算出部と、 前記第1回転行列、前記第2回転行列、前記第1並進行列、及び前記第2並進行列と、前記基線長に基づいて、前記第1撮影位置における前記第1撮像部または前記第2撮像部を基準とした前記第2撮影位置における前記第1撮像部または前記第2撮像部の並進距離を算出する並進距離算出部と、 前記並進距離に基づいて、前記被写体の3次元データを算出する3次元データ算出部と、 を備える3次元測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/245 ,  G01C 3/06 ,  G06T 1/00

FI (3件)：

G01B11/245 H ,  G01C3/06 110V ,  G06T1/00 315

Fターム (41件)：

2F065AA04 ,  2F065AA22 ,  2F065AA24 ,  2F065AA46 ,  2F065AA53 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065BB05 ,  2F065CC11 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ41 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F112AC03 ,  2F112AC06 ,  2F112BA06 ,  2F112CA05 ,  2F112FA03 ,  2F112FA07 ,  2F112FA38 ,  5B057AA16 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DC03 ,  5B057DC05 ,  5B057DC09 ,  5B057DC32