特許
J-GLOBAL ID：201603003794172242
3次元計測システム、3次元計測方法及びプログラム
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
木村 満
, 末富 孝典
, 山口 浩一
, 中嶋 和昭
, 山田 裕輔
, 山中 生太
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-148336
公開番号（公開出願番号）：特開2016-024052
出願日： 2014年07月18日
公開日（公表日）： 2016年02月08日
要約：
【課題】より計算量を低減しつつ、精度良く計測対象物の3次元計測を行う3次元計測システム、3次元計測方法及びプログラムを提供する。【解決手段】初期計測部42は、複数の第1投影パターンからなる構造化光の投影により計測対象物に形成された複数の第1被投影パターンを得て、これを撮影した第1の画像データに基づいて、投影光学系のフォーカス方向に関する各第1被投影パターンの奥行きの探索範囲を計測する。ファイン計測部43は、第1投影パターンと異なる複数の第2投影パターンからなる構造化光の投影により計測対象物に形成された第2被投影パターンを撮影した第2の画像データに対し、計測された奥行きの探索範囲に絞り込んで逆畳込み演算を行って、その演算により得られた複数の復元パターンと第2投影パターンとの類似度により、投影光学系のフォーカス方向に関する各復元パターンに対応する奥行きを計測する。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
投影光学系と、前記投影光学系に装着され非対称な符号パターンが形成された符号化開口とを介した構造化光を、計測対象物に投影する投影部と、
前記構造化光により前記計測対象物に投影された被投影パターンを撮像する撮像部と、
前記撮像部での撮像により得られた画像データに基づいて、前記計測対象物の3次元形状を計測する計測部と、
を備え、
前記計測部は、
前記符号化開口に配置された前記符号パターンを介して、複数の第1投影パターンからなる前記構造化光の投影により前記計測対象物に形成された複数の第1被投影パターンを得て、これを撮影した第1の画像データに基づいて、前記投影光学系のフォーカス方向に関する前記各第1被投影パターンの奥行きの探索範囲を計測する第1の計測部と、
前記第1投影パターンと異なる複数の第2投影パターンからなる前記構造化光の投影により前記計測対象物に形成された第2被投影パターンを撮影した第2の画像データに対し、前記フォーカス方向に関する前記第1の計測部で計測された奥行きの探索範囲に絞り込んで逆畳込み演算を行って、その演算により得られた複数の復元パターンと前記第2投影パターンとの類似度により、前記投影光学系のフォーカス方向に関する前記各復元パターンに対応する奥行きを計測する第2の計測部と、
を備える3次元計測システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
2F065AA53
, 2F065FF10
, 2F065HH07
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL00
, 2F065LL22
, 2F065PP23
, 2F065QQ00
, 2F065QQ16
, 2F065QQ17
, 2F065QQ38
