特許
J-GLOBAL ID：201603005283543229

測定装置および測定方法、ならびに画像形成装置

発明者：
青木 邦年

青木 邦年 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-035627
公開番号（公開出願番号）：特開2016-157008
出願日： 2015年02月25日
公開日（公表日）： 2016年09月01日
要約：
【課題】像担持体上に形成された、トナーの堆積で階調を表現するパッチにおけるトナーの平均高さを正しく測定する。【解決手段】パッチに照射した照射光の反射光を撮像素子で撮像したデータから、反射光の代表反射位置と光量を取得する。そして、該算出した光量と、該光量に基づいて補正した代表反射位置とに基づいて、トナーの平均高さを算出する。これにより、撮像素子の蓄積時間が比較的長い場合であっても、像担持体露出部とトナー被覆部とで反射率が異なることによる反射光への影響、すなわち平均高さ出力特性の歪みが補正される。したがって、像担持体上に形成されたパッチにおけるトナー平均高さを正確に測定することが可能となる。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
像担持体上に形成された、トナーの堆積で階調を表現するパッチにおけるトナーの平均高さを測定する測定装置であって、 前記パッチに照射した照射光の反射光の光量を取得する光量取得手段と、 前記反射光における代表反射位置を取得する位置取得手段と、 前記光量と、該光量に基づいて補正した前記代表反射位置とに基づいて、前記平均高さを算出する高さ算出手段と、 を有することを特徴とする測定装置。
IPC (2件)：
G03G 15/00 ,  G01B 11/02
FI (2件)：
G03G15/00 303 ,  G01B11/02 H
Fターム (36件)：
2F065AA24 ,  2F065AA25 ,  2F065AA30 ,  2F065BB01 ,  2F065BB15 ,  2F065CC00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL08 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2H270LA15 ,  2H270LA18 ,  2H270LD02 ,  2H270LD03 ,  2H270LD09 ,  2H270MA01 ,  2H270MA14 ,  2H270MA24 ,  2H270MB12 ,  2H270MB16 ,  2H270MB27 ,  2H270MB30 ,  2H270MB32 ,  2H270ZC03 ,  2H270ZC04
引用特許：
審査官引用 (7件)
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