特許

J-GLOBAL ID：201603006226570194

落下試験装置および落下試験方法

発明者： 藤井 雄作 ,  田北 啓洋 ,  石間 経章 ,  川島 久宜 ,  新木 亮佑
出願人/特許権者： 国立大学法人群馬大学
代理人 (3件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-143357
公開番号（公開出願番号）：特開2016-017951
出願日： 2014年07月11日
公開日（公表日）： 2016年02月01日
要約：

【課題】落下物体と試験対象物との間で力が作用しているときの落下物体が試験対象物から受ける力を高精度に測定する。【解決手段】重力によって落下する球体の内部に埋め込まれたコーナーキューブプリズムに光を照射する。球体が試験対象物と衝突したとき、または球体が流体である試験対象物の中を落下しているときのコーナーキューブプリズムからの反射光の状態変化を光波干渉計によって検出する。光波干渉計で検出された反射光の状態変化に基づいて、球体の変位速度を導出し、導出した変位速度から球体の加速度を導出し、導出した加速度に基づいて球体が試験対象物から受ける力を導出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

反射部を備えた落下物体と、 前記反射部に光を照射する光源を有し、落下している前記落下物体と試験対象物との間で力が作用しているときの前記反射部からの反射光の状態変化を検出する光波干渉計と、 前記光波干渉計で検出された前記反射部からの反射光の状態変化に基づいて、前記落下物体の加速度を導出し、導出した前記加速度に基づいて前記落下物体が前記試験対象物から受ける力を導出する導出部と、 を含む落下試験装置。

IPC (2件)：

G01N 3/303 ,  G01L 5/00

FI (4件)：

G01N3/303 A ,  G01N3/303 B ,  G01L5/00 F ,  G01L5/00 G

Fターム (9件)：

2F051AB03 ,  2F051BA07 ,  2G061AA13 ,  2G061AB04 ,  2G061DA01 ,  2G061EA02 ,  2G061EA09 ,  2G061EB07 ,  2G061EC02