特許
J-GLOBAL ID:201603007134835848
微小粒子測定装置におけるラミナーフローモニタリング方法と微小粒子分析方法及び微小粒子測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
渡邊 薫
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2013065586
公開番号(公開出願番号):WO2014-024556
出願日: 2013年06月05日
公開日(公表日): 2014年02月13日
要約:
データの信頼性を担保するため、流路中のラミナーフローの送液状態を自動的に判定可能な技術の提供。 ラミナーフローに光を照射する照射手順と、前記ラミナーフローから発生する散乱光から分離され、非点収差を与えられたS偏光成分を検出器により受光し、該検出器における前記S偏光成分の受光位置情報を取得する位置検出手順と、前記受光位置情報に基づいて、前記ラミナーフローの状態を判定する判定手順と、を含む微小粒子測定装置におけるラミナーフローモニタリング方法を提供する。
請求項(抜粋):
ラミナーフローに光を照射する照射手順と、
前記ラミナーフローから発生する散乱光から分離され、非点収差を与えられたS偏光成分を検出器により受光し、該検出器における前記S偏光成分の受光位置情報を取得する位置検出手順と、
前記受光位置情報に基づいて、前記ラミナーフローの状態を判定する判定手順と、
を含む微小粒子測定装置におけるラミナーフローモニタリング方法。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N15/14 A
, G01N15/14 D
, G01N21/21 Z
Fターム (17件):
2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059BB09
, 2G059DD12
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE07
, 2G059JJ05
, 2G059JJ06
, 2G059JJ11
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059KK02
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM10
, 2G059PP04
前のページに戻る