特許
J-GLOBAL ID:201603007134835848

微小粒子測定装置におけるラミナーフローモニタリング方法と微小粒子分析方法及び微小粒子測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 渡邊 薫
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2013065586
公開番号(公開出願番号):WO2014-024556
出願日: 2013年06月05日
公開日(公表日): 2014年02月13日
要約:
データの信頼性を担保するため、流路中のラミナーフローの送液状態を自動的に判定可能な技術の提供。 ラミナーフローに光を照射する照射手順と、前記ラミナーフローから発生する散乱光から分離され、非点収差を与えられたS偏光成分を検出器により受光し、該検出器における前記S偏光成分の受光位置情報を取得する位置検出手順と、前記受光位置情報に基づいて、前記ラミナーフローの状態を判定する判定手順と、を含む微小粒子測定装置におけるラミナーフローモニタリング方法を提供する。
請求項(抜粋):
ラミナーフローに光を照射する照射手順と、 前記ラミナーフローから発生する散乱光から分離され、非点収差を与えられたS偏光成分を検出器により受光し、該検出器における前記S偏光成分の受光位置情報を取得する位置検出手順と、 前記受光位置情報に基づいて、前記ラミナーフローの状態を判定する判定手順と、 を含む微小粒子測定装置におけるラミナーフローモニタリング方法。
IPC (2件):
G01N 15/14 ,  G01N 21/21
FI (3件):
G01N15/14 A ,  G01N15/14 D ,  G01N21/21 Z
Fターム (17件):
2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059BB09 ,  2G059DD12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE07 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK02 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04

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