特許

J-GLOBAL ID：201603007847874460

変位測定装置および材料試験機

発明者： 辻 博志
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 大坪 隆司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-284727
公開番号（公開出願番号）：特開2014-126505
特許番号：特許第6015434号
出願日： 2012年12月27日
公開日（公表日）： 2014年07月07日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 分解能が異なる複数の変位計と、前記複数の変位計からの信号に基づいて変位測定値を保持する変位カウンタと、被測定物の変位状態に応じて前記変位カウンタへの出力を分解能が高い変位計の出力から分解能が低い変位計の出力へと切り替える切替部を有する変位測定装置であって、 前記複数の変位計から前記変位カウンタへ出力する際に、それぞれの変位計の1ディジットをそれぞれの変位計に応じて前記変位カウンタに対応した数値に変換する変換部と、 前記複数の変位計のうち分解能が高い変位計から出力されるデジタル信号をカウントする判定用カウンタと、 前記判定用カウンタの値が予め設定したしきい値より大きいか否かを判定する判定部と、 当該変位測定装置からの出力を、分解能が高い変位計の出力から、分解能が低い変位計の出力に切り替えるタイミングを調整する調整信号を、前記複数の変位計のうち出力切替目標となる分解能が低い変位計から出力されたデジタル信号の1/2ディジット分の位置で分解能が高い変位計のディジットの数に基づいて生成し出力する調整信号生成部と、 前記判定部が前記判定用カウンタの値が予め設定されたしきい値より大きいと判断した直後の前記調整信号生成部が発生する調整信号のタイミングで、当該変位測定装置からの出力を、分解能が高い変位計の出力から、分解能が低い変位計の出力に切り替えるための信号を発生して前記切替部に供給する切替信号発生部と、 を備えることを特徴とする変位測定装置。

IPC (3件)：

G01N 3/06 ( 200 6.01) ,  G01B 21/00 ( 200 6.01) ,  G01B 21/32 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01N 3/06 ,  G01B 21/00 C ,  G01B 21/32

引用特許：

出願人引用 (2件)

• ビデオ式非接触伸び計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-019388   出願人：株式会社島津製作所
• 特開昭62-167409
  

審査官引用 (2件)

• ビデオ式非接触伸び計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-019388   出願人：株式会社島津製作所
• 特開昭62-167409