特許

J-GLOBAL ID：201603007913497363

実質的に同一の複数の部品をX線で自動的に試験および/または測定するためのシステムおよび方法

発明者： ヴァステンベッカー,マイケル
出願人/特許権者： ジーイー センシング アンド インスペクション テクノロジーズ ゲ-エムベーハー
代理人 (4件)： 荒川 聡志 ,  小倉 博 ,  黒川 俊久 ,  田中 拓人
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-548477
公開番号（公開出願番号）：特表2016-500446
出願日： 2013年12月18日
公開日（公表日）： 2016年01月12日
要約：

実質的に同一の複数の部品(12)をX線で連続して自動的に試験および/または測定するためのシステム(10)は、支持体(17)を有する試験装置(11)と、支持体(17)上で連続的に回転することができるように取り付けられたロータ(18)と、ロータ(18)上に配設されたX線装置(24、25)と、試験装置(11)を取り巻く保護囲い(15)と、X線試験中に部品(12)を扱うための取扱装置(60)と、システム(10)を自動的に制御し、また、コンピュータトモグラフィによってX線信号を評価するように構成された制御/評価ユニット(14)とを備える。取扱装置(60)は、装荷領域(61)と試験領域(78)の間を周期的に往復運動するように構成されており、部品(12)が終端面の側に配設され得る終端面要素(64)を備える。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

実質的に同一の複数の部品(12)をX線で連続して自動的に試験および/または測定するためのシステム(10)であって、支持体(17)を有する試験装置(11)と、前記支持体(17)上で連続的に回転することができるように取り付けられたロータ(18)と、前記ロータ(18)上に配設されたX線装置(24、25)と、前記試験装置(11)を取り巻く保護囲い(15)と、X線試験中に部品(12)を扱うための取扱装置(60)と、前記システム(10)を自動的に制御し、また、コンピュータトモグラフィによってX線信号を評価するように構成された制御/評価ユニット(14)とを備え、前記取扱装置(60)が、装荷領域(61)と試験領域(78)の間を周期的に往復運動するように構成されており、終端面の側に前記部品(12)が配設され得る収容および/または保持手段を与える垂直に配向された終端面要素(64)を備えることを特徴とするシステム(10)。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/14

FI (2件)：

G01N23/04 320 ,  G01N23/14

Fターム (8件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001JA08 ,  2G001JA11 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001PA11