特許

J-GLOBAL ID：201603008306339631

テラヘルツ波計測装置

発明者： 富樫 孝宏
出願人/特許権者： パイオニア株式会社
代理人 (2件)： 江上 達夫 ,  中村 聡延
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-215198
公開番号（公開出願番号）：特開2016-080655
出願日： 2014年10月22日
公開日（公表日）： 2016年05月16日
要約：

【課題】小型で安価、且つ分解能の高いテラヘルツ波計測装置を実現する。【解決手段】テラヘルツ波計測装置は、レーザ光が照射されることでテラヘルツ波を発生させる発生手段(210)と、レーザ光が照射されることで、対象物(500)によって反射された又は対象物を透過したテラヘルツ波を検出する検出手段(220)と、発生手段及び対象物間又は検出手段及び対象物間に配置されており、テラヘルツ波を通過させる開口部(350)を有したフィルタ手段(300)と、検出手段に照射されるレーザ光の光路長を、開口部の開口径に応じて調整する光学遅延手段(400)とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

レーザ光が照射されることでテラヘルツ波を発生させる発生手段と、 前記レーザ光が照射されることで、対象物によって反射された又は前記対象物を透過した前記テラヘルツ波を検出する検出手段と、 前記発生手段及び前記対象物間又は前記検出手段及び前記対象物間に配置されており、前記テラヘルツ波を通過させる開口部を有したフィルタ手段と、 前記検出手段に照射される前記レーザ光の光路長を、前記開口部の開口径に応じて調整する光学遅延手段と を備えることを特徴とするテラヘルツ波計測装置。

IPC (2件)：

G01N 21/358 ,  H01S 1/02

FI (2件)：

G01N21/3586 ,  H01S1/02

Fターム (14件)：

2G059AA02 ,  2G059AA05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059MM01 ,  2G059NN01 ,  2G059NN05