特許
J-GLOBAL ID:201603010238158130

余寿命診断用のプローブの使用方法および計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (13件): 蔵田 昌俊 ,  福原 淑弘 ,  中村 誠 ,  野河 信久 ,  峰 隆司 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  井関 守三 ,  赤穂 隆雄 ,  井上 正 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-255302
公開番号(公開出願番号):特開2014-102193
特許番号:特許第5972764号
出願日: 2012年11月21日
公開日(公表日): 2014年06月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 絶縁材料の余寿命を診断するために用いることの可能な余寿命診断用のプローブの使用方法であって、 前記余寿命診断用のプローブは、 第1の電極と、 前記第1の電極が対象物の表面に接触した状態で前記表面に接触して前記第1の電極と の間に試験電圧を生じる第2の電極と、 前記第1の電極と前記第2の電極とが前記表面に接触する圧力を規定する弾性部材とを 具備し、 前記第2の電極は、円形で前記表面と接触する端部を有する筒状部を備え、 前記第1の電極は、前記筒状部の中心軸に沿って長手方向に延伸する棒状部材であり、 前記弾性部材の弾性係数および前記筒状部の内径は、前記対象物の設備設置環境に応じ て選択されることを特徴とする、余寿命診断用のプローブの使用方法。
IPC (2件):
G01N 17/00 ( 200 6.01) ,  G01N 27/04 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 17/00 ,  G01N 27/04 Z
引用特許:
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る