特許
J-GLOBAL ID：201603010531163202
クロマトグラフ質量分析を用いた薬物分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-186699
公開番号（公開出願番号）：特開2015-052570
特許番号：特許第6020395号
出願日： 2013年09月09日
公開日（公表日）： 2015年03月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 MS/MS測定が可能であるクロマトグラフ質量分析装置を用い(1H-インドール-3-イル)(ナフタレン-1-イル)メタノンを基本骨格とする特定の化合物を包括的に同定する薬物分析方法であって、
a)クロマトグラフ質量分析装置により、同定対象の化合物を含む試料に対し、
a1)イオン化の際の開裂によって生じるナフトイルをプリカーサイオン、該ナフトイルからカルボニル基が脱離したナフタレンをプロダクトイオンとし、ナフタレン環に結合している第3官能基の質量の相違に応じた複数のMRMトランジションを測定条件とした第1のMRM測定、又は、前記第3官能基の質量の相違に応じたナフトイルをプリカーサイオンとした第1のプロダクトイオンスキャン測定、
a2)イオン化の際の開裂によって生じるインドールカルボニルをプリカーサイオン、該インドールカルボニルからカルボニル基が脱離したインドールをプロダクトイオンとし、インドール環に結合している第2官能基の質量の相違に応じた複数のMRMトランジションを測定条件とした第2のMRM測定、又は、前記第2官能基の質量の相違に応じたインドルカルボニルをプリカーサイオンとした第2のプロダクトイオンスキャン測定、及び、
a3)インドール環の窒素に結合している第1官能基が脱離する一方、前記第2官能基が付加している状態のインドールカルボニルをプロダクトイオンとしたプリカーサイオンスキャン測定、
という3種類のMS/MS測定を繰り返し実行する測定実行ステップと、
b)第1のMRM測定又は第1のプロダクトイオンスキャン測定、第2のMRM測定又は第2のプロダクトイオンスキャン測定、及びプリカーサイオンスキャン測定によりそれぞれ得られたデータに基づいて作成される、その3種類の測定にそれぞれ対応したクロマトグラム上の同一保持時間にピークが共通に存在するか否かを判定することにより、前記基本骨格を有する特定化合物の存在を判断する化合物存在確認ステップと、
c)前記第1のMRM測定又は第1のプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいて第3官能基の種類を、前記第2のMRM測定又は第2のプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいて第2官能基の種類を、前記プリカーサイオンスキャン測定により得られたデータに基づいて第1官能基の種類を、それぞれ推定し、それら推定結果に基づいて、前記化合物存在確認ステップにおいて存在が確認された特定化合物の化学構造を推定する構造推定ステップと、
を有することを特徴とする、クロマトグラフ質量分析を用いた薬物分析方法。
IPC (1件)：
FI (3件)：
G01N 27/62 D
, G01N 27/62 V
, G01N 27/62 C
