特許

J-GLOBAL ID：201603010550617265

余寿命評価方法

発明者： 横堀 壽光 ,  安藤 明香里 ,  杉浦 隆次 ,  大見 敏仁 ,  松原 亨 ,  勝俣 力
出願人/特許権者： 国立大学法人東北大学 ,  株式会社パルメソ
代理人 (2件)： 須田 篤 ,  楠 修二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-044847
公開番号（公開出願番号）：特開2016-164514
出願日： 2015年03月06日
公開日（公表日）： 2016年09月08日
要約：

【課題】サンプリングが不要で、クリープ等による余寿命を非破壊レベルで容易に評価することができる余寿命評価方法を提供する。【解決手段】所定の材料群について、破断寿命の関数である評価パラメータと、損傷部および非損傷部の研削抵抗との関係をあらかじめ求めておく。被評価材の損傷部および非損傷部の研削抵抗を測定する。被評価材の各研削抵抗の測定値と、あらかじめ求めた評価パラメータと損傷部および非損傷部の研削抵抗との関係とに基づいて、被評価材の余寿命を評価する。クリープによる余寿命を評価する場合には、評価パラメータは、クリープ延性を表すQL*パラメータであることが好ましい。【選択図】図7

請求項（抜粋）：

所定の材料群について、破断寿命の関数である評価パラメータと、損傷部および非損傷部の研削抵抗との関係をあらかじめ求めておき、 被評価材の損傷部および非損傷部の研削抵抗を測定し、 前記被評価材の各研削抵抗の測定値と、あらかじめ求めた前記評価パラメータと損傷部および非損傷部の研削抵抗との関係とに基づいて、前記被評価材の余寿命を評価することを 特徴とする余寿命評価方法。

IPC (1件)：

G01N 17/00

FI (1件)：

G01N17/00

Fターム (8件)：

2G050AA01 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050CA02 ,  2G050EA01 ,  2G050EA04 ,  2G050EA05 ,  2G050EB07