特許
J-GLOBAL ID：201603011306265485
チップ電子部品の検査選別装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳川 泰男
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013069120
公開番号（公開出願番号）：WO2014-010720
出願日： 2013年07月12日
公開日（公表日）： 2014年01月16日
要約：
【課題】チップ電子部品収容容器への不適合チップ電子部品の混入を防止することができ、そしてチップ電子部品収容容器の取り出しも容易なチップ電子部品の検査選別装置を提供すること。【解決手段】チップ電子部品保持板24が備える多数の透孔23に収容されたチップ電子部品の電気特性を検査選別して上面が開口した少なくとも二個のチップ電子部品収容容器34に収容する装置であって、上記保持板24の透孔23から排出されたチップ電子部品の排出通路37に接続するチップ電子部品排出通路支持構造体39aに、排出通路37を介して容器34に送り込まれる加圧気体の少なくとも一部を逃がす加圧気体逃がし通路41が備えられていること、そして容器34が、この容器34の開口面33と支持構造体39aの下側表面43aとの間隔の調節を可能にする昇降手段42により支持されているチップ電子部品の検査選別装置。
請求項（抜粋）：
基台、基台に中心軸を介して回転可能に固定され、該中心軸の周囲を間欠的に回転する、チップ電子部品を一時的に収容できる多数の透孔を備えたチップ電子部品保持板、但し、該透孔は、チップ電子部品保持板の表面に、複数の同心円上で、該同心円を等分割した位置に配置されている、該チップ電子部品保持板の一方の表面に近接する位置にて基台上に配置された、チップ電子部品保持板の各透孔にチップ電子部品を供給するチップ電子部品供給手段、該チップ電子部品保持板の各透孔の両開口部に近接した位置に配置された一対の電極端子、該一対の電極端子のそれぞれに電気的に接続された電気特性測定手段、該電気特性測定手段に電気的に接続された電気特性判定手段、該電気特性判定手段に電気的に接続されたチップ電子部品排出指示信号送信手段、チップ電子部品保持板の近傍、かつ前記の同心円の各々に対応する位置に上側開口部が位置するようにそれぞれ配置された前記の同心円の半径方向に沿って少なくとも二列配置された、上記チップ電子部品排出指示信号送信手段からの信号の受信が可能なチップ電子部品排出機構、そしてチップ電子部品保持板からチップ電子部品排出機構を介して排出されたチップ電子部品を受け入れて収容する上面が開口した少なくとも二個のチップ電子部品収容容器を含み、
該チップ電子部品排出機構は、チップ電子部品保持板の一方の表面側にて開口する加圧気体供給手段、チップ電子部品保持板を介して加圧気体供給手段と反対側の位置に前記の上側開口部を配置したチップ電子部品排出通路、そして基台に固定され、チップ電子部品排出通路の下側の開口部と接続した透孔を備えたチップ電子部品排出通路支持構造体を含み、そして
該チップ電子部品収容容器の各々の上記開口は、上記チップ電子部品排出通路支持構造体の透孔の下側に配置されて、チップ電子部品排出通路と該支持構造体の透孔を介して排出されるチップ電子部品を受け入れて収容するようにされているチップ電子部品の検査選別装置であって、
上記チップ電子部品排出通路支持構造体に、チップ電子部品排出通路を介してチップ電子部品収容容器に送り込まれる加圧気体の少なくとも一部を逃がす加圧気体逃がし通路が備えられていること、そしてチップ電子部品収容容器は、該収容容器の開口面とチップ電子部品排出通路支持構造体の下側表面との間隔の調節を可能にするチップ電子部品収容容器昇降手段により支持されていることを特徴とするチップ電子部品の検査選別装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G036AA27
, 2G036BB01
, 2G036BB02
, 2G036CA01
, 2G036CA05
