特許
J-GLOBAL ID：201603011496679124

三次元形状測定装置、三次元形状測定方法、及びプログラム

発明者：
安藤 利典

安藤 利典 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-080161
公開番号（公開出願番号）：特開2013-210262
特許番号：特許第5995484号
出願日： 2012年03月30日
公開日（公表日）： 2013年10月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 明部と暗部とを有する第1のパターンと、前記第1のパターンに対し、明部と暗部との関係が反転した関係にある第2のパターンとを、被検物に投影する投影手段と、 前記被検物を撮像することにより得られる、前記第1のパターンが投影された状態の画像における前記被検物の第1の輝度分布と、前記第2のパターンが投影された状態の画像における前記被検物の第2の輝度分布と、前記第1のパターンおよび前記第2のパターンが投影されない状態の画像における前記被検物の第3の輝度分布とをそれぞれ取得する輝度分布取得手段と、 前記第1の輝度分布、前記第2の輝度分布、および前記第3の輝度分布に基づいて、前記第1の輝度分布が得られたときと前記第2の輝度分布が得られたときとの環境光の輝度の変化分の分布である第4の輝度分布を導出する輝度分布導出手段と、 前記第1の輝度分布と、前記第2の輝度分布と、の交点を導出する交点導出手段と、 前記交点に基づいて、前記被検物の三次元形状を導出する三次元形状導出手段と、を有し、 前記交点導出手段は、前記第4の輝度分布を用いて、前記第1の輝度分布に含まれる環境光による成分と、前記第2の輝度分布に含まれる環境光による成分とを略等しくした状態で、前記第1の輝度分布と、前記第2の輝度分布との交点を導出することを特徴とする三次元形状測定装置。
IPC (1件)：
G01B 11/25 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01B 11/25 H
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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