特許

J-GLOBAL ID：201603012159577880

半導体光検出装置および放射線検出装置

発明者： 西原 利幸 ,  角 博文
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (2件)： 西川 孝 ,  稲本 義雄
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013060735
公開番号（公開出願番号）：WO2013-157448
出願日： 2013年04月09日
公開日（公表日）： 2013年10月24日
要約：

本技術は、光検出の時間分解能を高めることが可能で、放射線のエネルギー分別とフォトンカウンティングを可能にする半導体光検出装置および放射線検出装置に関する。放射線検出装置は、シンチレータ、放射線検出部および露光期間調整部を有する。シンチレータは、放射線が入射されると放射線のエネルギーに応じた光強度のシンチレーション光を生成してシンチレーション光の光子を複数の画素の各々に供給する。放射線検出部は、シンチレーション光により複数の画素が露光期間に亘って露光されるたびに露光期間内に供給された光子の数から放射線が入射されたか否かを検出する。露光期間調整部は、検出された放射線の入射頻度に基づいて露光期間を調整する。

請求項（抜粋）：

放射線が入射されると前記放射線のエネルギーに応じた光強度のシンチレーション光を生成して当該シンチレーション光の光子を複数の画素の各々に供給するシンチレータと、 前記シンチレーション光により前記複数の画素が露光期間に亘って露光されるたびに前記露光期間内に供給された前記光子の数から前記放射線が入射されたか否かを検出する放射線検出部と、 前記検出された放射線の入射頻度に基づいて前記露光期間を調整する露光期間調整部とを具備する放射線検出装置。

IPC (5件)：

H04N 5/32 ,  H04N 5/353 ,  G01T 1/20 ,  A61B 6/00 ,  A61B 6/03

FI (8件)：

H04N5/32 ,  H04N5/335 530 ,  G01T1/20 E ,  G01T1/20 G ,  G01T1/20 L ,  A61B6/00 300Q ,  A61B6/00 300S ,  A61B6/03 320R

Fターム (21件)：

2G188AA01 ,  2G188AA02 ,  2G188BB04 ,  2G188BB07 ,  2G188CC12 ,  2G188CC22 ,  2G188DD05 ,  2G188EE12 ,  2G188EE25 ,  2G188EE31 ,  4C093AA01 ,  4C093AA22 ,  4C093CA13 ,  4C093DA06 ,  4C093EB12 ,  4C093EB17 ,  5C024AX02 ,  5C024CX51 ,  5C024EX42 ,  5C024GX09 ,  5C024HX27