特許
J-GLOBAL ID：201603012408841053
解析装置、解析方法及びコンピュータプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
河野 登夫
, 河野 英仁
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-217645
公開番号（公開出願番号）：特開2014-071689
特許番号：特許第6009305号
出願日： 2012年09月28日
公開日（公表日）： 2014年04月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 磁歪が生ずる磁性体を含む電磁部品を、有限要素法解析における複数の有限要素の組み合わせで表現した数値解析モデルに基づいて、前記電磁部品に与えられる磁束密度に応じた該有限要素の各節点又は各有限要素の歪みと等価な節点力を算出する解析装置において、
所定の第1座標系における磁束密度及び歪みの関係、並びに歪み及び該歪みに応じた応力の関係を記憶する記憶手段と、
磁束密度の方向に略平行な主軸を有する第2座標系における歪みを、前記記憶手段が記憶する前記第1座標系における磁束密度及び歪みの関係に基づいて節点毎又は有限要素毎に算出する歪み算出手段と、
各節点又は各有限要素の第2座標系における歪みを前記第1座標系における歪みに座標変換する座標変換手段と、
座標変換された歪み、並びに前記記憶手段が記憶する第1座標系における歪み及び該歪みに応じた応力の関係に基づいて、該座標変換された歪みと同じ歪みを生じさせる節点力を算出する等価節点力算出手段と
を備えることを特徴とする解析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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