特許
J-GLOBAL ID：201603012849391142
電子ビームによる梨地加工方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 宏明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-014894
公開番号（公開出願番号）：特開2013-154356
特許番号：特許第5921215号
出願日： 2012年01月27日
公開日（公表日）： 2013年08月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 陰極から放出される電子ビームを収束レンズおよび偏向コイルによって被加工物の表面に照射し、前記被加工物の表面に梨地加工を行う電子ビームによる梨地加工方法であって、
前記被加工物の形状データに基づいて、前記被加工物の表面に前記電子ビームの照射順序で所定間隔離れて並ぶ複数の照射目標点を決定する電子ビーム照射目標点決定ステップと、
前記各照射目標点の位置に対応して、前記電子ビームの電流値、前記収束レンズの電流値、および前記偏向コイルの電流値をそれぞれ設定する電子ビーム照射条件設定ステップと、
前記電子ビームの照射位置を、所定周期で前記各照射目標点に前記照射順序で移動させつつ、前記各照射目標点毎に、パルス状の前記電子ビームを照射する電子ビーム照射ステップと、
を有し、
前記電子ビームの電流値は、前記各照射目標点における偏向角度に応じて、前記被加工物の表面の基準位置から離れるほど大きく設定されることを特徴とする電子ビームによる梨地加工方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
B23K 15/00 502
, B23K 15/00 503
