特許
J-GLOBAL ID:201603013156974051
データ関連情報処理装置及びプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-257509
公開番号(公開出願番号):特開2016-118886
出願日: 2014年12月19日
公開日(公表日): 2016年06月30日
要約:
【課題】データ関連情報群の中から機器の設置場所及び種類を特定する用語、又はデータの信号名を特定する用語に基づき分析ツールへの入力パラメータとして設定すべきデータ関連情報が特定できない場合、センサーの出力データを参照することによって、その特定できなかった入力パラメータに設定すべきデータ関連情報の候補を選出する。【解決手段】機器分析ツールに入力するパラメータを含むパラメータリストを生成するパラメータリスト生成部14と、パラメータリストに含めるべきパラメータとして設定するデータ関連情報がデータ関連情報群の中から選出されなかった場合、データ記憶部41から読み出したセンサーからの出力データをデータ特性ルールに当てはめて得たデータ特性ルールとの合致度に従いパラメータリストを補完するパラメータリスト補完処理部15と、を有する。【選択図】図3
請求項(抜粋):
センサーの検出対象となる機器の設置場所を示す設置場所用語、当該機器の種類を示す機器種類用語及び当該センサーの出力データの種類を示す出力種類用語を含んで構成され、複数のセンサーのそれぞれの出力データに関連付けられているデータ名称情報に基づき前記出力値毎に生成されたデータ関連情報であって、設置場所用語及び機器種類用語を含む機器特定用語と、出力種類用語と、をそれぞれ項目値として含むデータ関連情報のうち、分析対象とするセンサーの出力データを抽出するために用いられる複数のデータ関連情報を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得されたデータ関連情報の中から、予め決められたパラメータリスト生成ルールに従い機器分析ツールに入力する1又は複数のパラメータそれぞれに設定するデータ関連情報を機器毎に選出し、その選出したデータ関連情報の識別情報を含むパラメータリストを機器毎に生成する生成手段と、
前記生成手段により生成されたパラメータリストの中に含めるべきパラメータの全てに対してデータ関連情報が選出されなかった場合、データ関連情報が選出されなかったパラメータとして選出されるべきデータ関連情報を、前記各センサーの出力データの、データ関連情報が選出されなかったパラメータとしての適合度に従い選出する選出手段と、
前記選出手段により選出されたデータ関連情報で、当該パラメータリストを補完する補完処理手段と、
を有することを特徴とするデータ関連情報処理装置。
IPC (3件):
G06F 17/30
, G06Q 50/16
, G05B 23/02
FI (4件):
G06F17/30 220B
, G06F17/30 170Z
, G06Q50/16 102
, G05B23/02 Z
Fターム (9件):
3C223AA21
, 3C223AA23
, 3C223BA04
, 3C223CC02
, 3C223DD03
, 3C223EB01
, 3C223FF32
, 3C223GG01
, 5L049CC29
引用特許:
審査官引用 (2件)
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データ名称抽出装置及びプログラム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2013-094260
出願人:三菱電機ビルテクノサービス株式会社, 三菱電機株式会社
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情報処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-372427
出願人:キヤノン株式会社
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