特許

J-GLOBAL ID：201603013388965300

高速フェイルメモリデータ取得装置およびその方法

発明者： ユ,ホ サン
出願人/特許権者： ユニテスト インク.
代理人 (1件)： 特許業務法人 信栄特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-108477
公開番号（公開出願番号）：特開2016-164577
出願日： 2016年05月31日
公開日（公表日）： 2016年09月08日
要約：

【課題】高速フェイルメモリデータ取得装置およびその方法を提供する。【解決手段】本発明の高速フェイルメモリデータ取得装置は、被測定メモリ(DUT)に記録するためのパターンを発生させ、被測定メモリ(DUT)から記録されたDUT記録データを受信するパターン発生器(1)と、パターン発生器(1)から印加を受けたDUT記録データおよび該DUT記録データに対応するように既に発生したパターンを不良分析器(3)へ伝送するデータ伝送装置(2)と、データ伝送装置(2)から受信したDUT記録データおよび該DUT記録データに対応するように既に発生したパターンを分析して不良分析情報を生成する不良分析器(3)と、を備えている。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

フェイルメモリデータ取得装置において、 被測定メモリ(DUT)を試験するためのパターンを発生させ、前記被測定メモリ(DUT)に前記パターンを伝送するとともに、前記被測定メモリ(DUT)からDUT記録データを受信するパターン発生器と、ここで、前記被測定メモリ(DUT)は前記パターン発生器に接続されて、前記パターン発生器から受信した前記パターンを記録して前記記録されたパターンに対応する前記DUT記録データを読み出し、 前記パターン発生器に接続されて、前記パターン発生器から前記パターンおよび前記DUT記録データを受信し、前記パターン発生器から受信した前記DUT記録データおよび前記パターンを不良分析器へ伝送するデータ伝送装置と、 前記データ伝送装置に接続されて、前記データ伝送装置から前記DUT記録データおよび前記パターンを受信し、前記DUT記録データと前記パターンとを比較して不良分析情報を生成する不良分析器と、を備えている、フェイルメモリデータ取得装置。

IPC (1件)：

G01R 31/28

FI (1件)：

G01R31/28 B

Fターム (8件)：

2G132AA08 ,  2G132AB01 ,  2G132AC03 ,  2G132AD06 ,  2G132AE14 ,  2G132AE19 ,  2G132AG01 ,  2G132AL09