特許

J-GLOBAL ID：201603013638062157

かぶり厚検査装置

発明者： 竹内 啓五
出願人/特許権者： 清水建設株式会社
代理人 (7件)： 田中 貞嗣 ,  小山 卓志 ,  南 義明 ,  森川 聡 ,  菅井 英雄 ,  青木 健二 ,  米澤 明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-255227
公開番号（公開出願番号）：特開2014-101714
特許番号：特許第6024964号
出願日： 2012年11月21日
公開日（公表日）： 2014年06月05日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光線を検査対象に投射して、点群データの集合である3次元距離データを取得する距離データ取得手段と、 前記距離データ取得手段で取得された前記3次元距離データを3次元直交座標に基づく点群データに変換する座標変換手段と、 前記座標変換手段で変換された点群データから、平面として認識される点群を抽出する平面抽出手段と、 前記座標変換手段で変換された点群データから、第1の径を有する第1円柱体として認識される点群を抽出する第1円柱体抽出手段と、 前記座標変換手段で変換された点群データから、第2の径を有する第2円柱体として認識される点群を抽出する第2円柱体抽出手段と、 前記平面抽出手段で抽出された前記平面からの距離に応じて、点群データを色分けする色分け表示手段と、からなることを特徴とするかぶり厚検査装置。

IPC (3件)：

E04G 21/12 ( 200 6.01) ,  G01B 11/08 ( 200 6.01) ,  G01B 11/14 ( 200 6.01)

FI (3件)：

E04G 21/12 105 A ,  G01B 11/08 Z ,  G01B 11/14 Z