特許
J-GLOBAL ID：201603014441719118

3次元位置計測装置

発明者：
山内 良昭

山内 良昭 について

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西口 憲一

西口 憲一 について

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岸田 欣増

岸田 欣増 について


出願人/特許権者：
ニューブレクス株式会社

ニューブレクス株式会社 について


代理人 (2件)： 大岩 増雄 ,  吉澤 憲治
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-550094
特許番号：特許第5851630号
出願日： 2013年10月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】筒状の内管と、 前記内管の外周を覆うように筒状に配設された光ファイバ取付層と、 前記光ファイバ取付層に所定のピッチで螺旋状に敷設され、前記内管の変形とともに変形するように取付けられた4本以上の光ファイバと、 を有する接続体、 前記4本以上の光ファイバと接続され、パルスレーザ光を当該光ファイバへ出射し、該光ファイバで発生した散乱光からブリルアン散乱の周波数の変化、あるいはレイリー散乱の周波数の変化、またはレイリー散乱の位相変化を検出して、その周波数変化あるいはその位相変化から前記内管のひずみと圧力と温度とを分離して検出するブリルアン散乱、レイリー散乱を測定する散乱光測定機、 前記散乱光測定機で検出したブリルアン散乱の周波数の変化あるいはレイリー散乱の周波数の変化、またはレイリー散乱の位相変化から、前記内管に生じた曲げ、伸び、ねじりの各ひずみ変化、圧力変化、あるいは温度変化を求めるとともに、当該求めた各ひずみ変化、圧力変化あるいは温度変化から、前記内管の所定の箇所の3次元位置を解析して求める解析装置、 を備えた3次元位置計測装置。
IPC (2件)：
G01B 11/16 ( 200 6.01) ,  G01D 5/353 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01B 11/16 Z ,  G01D 5/353 B
引用特許：
出願人引用 (4件)
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