特許
J-GLOBAL ID:201603015195873583
総合情報管理システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人開知国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-129470
公開番号(公開出願番号):特開2016-008884
出願日: 2014年06月24日
公開日(公表日): 2016年01月18日
要約:
【課題】燃料デブリやガレキ等に対するサンプリング箇所の決定や、その後の分析手順の決定の効率的な実施を支援することができる総合情報管理システムを提供する。【解決手段】分析対象物の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う複数の非破壊測定装置と、複数の非破壊測定装置から、分析対象物の非破壊測定に用いる少なくとも一つの非破壊測定装置を選択する非破壊測定方法選択機能と、非破壊測定方法選択機能により選択した非破壊測定装置により測定した分析対象物の形状、温度、及び内部の状態についての測定データを表示する表示機能と、表示機能により表示された測定データ上で、分析対象物におけるサンプルの採取位置を設定するサンプリング部位設定機能と、サンプリング部位設定機能により設定された分析対象物のサンプルに対して用いる少なくとも一つの分析方法を複数の分析方法から選択的に設定する分析方法選択機能とを備える。【選択図】図11
請求項(抜粋):
放射化物質や放射能汚染物質などの分析対象物の情報を管理する総合情報管理システムであって、
前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う複数の非破壊測定装置と、
前記複数の非破壊測定装置から、前記分析対象物の非破壊測定に用いる少なくとも一つの非破壊測定装置を選択する非破壊測定方法選択機能と、
前記非破壊測定方法選択機能により選択した前記非破壊測定装置により測定した前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態についての測定データを表示する表示機能と、
前記表示機能により表示された前記測定データ上で、前記分析対象物におけるサンプルの採取位置を設定するサンプリング部位設定機能と、
前記サンプリング部位設定機能により設定された前記分析対象物のサンプルに対して用いる少なくとも一つの分析方法を複数の分析方法から選択的に設定する分析方法選択機能と
を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
IPC (5件):
G01N 23/04
, G01T 1/16
, G01T 1/167
, G01T 1/169
, G01N 23/225
FI (5件):
G01N23/04
, G01T1/16 A
, G01T1/167 D
, G01T1/169 A
, G01N23/225
Fターム (22件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001CA02
, 2G001HA07
, 2G001HA09
, 2G001HA14
, 2G001KA02
, 2G001KA06
, 2G001LA09
, 2G188AA19
, 2G188AA23
, 2G188AA25
, 2G188BB02
, 2G188BB04
, 2G188BB15
, 2G188BB18
, 2G188DD05
, 2G188DD16
, 2G188DD23
, 2G188DD25
, 2G188EE37
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