特許
J-GLOBAL ID：201603015306914977
粒度分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鹿島 義雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-172021
公開番号（公開出願番号）：特開2014-032075
特許番号：特許第5974714号
出願日： 2012年08月02日
公開日（公表日）： 2014年02月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 平行光束を出射する光源部と、
散乱光を集光する集光レンズと、
前記集光レンズで集光された散乱光の光強度分布を検出する光検出器と、
前記光源部と前記集光レンズとの間に、被測定粒子群を含む被測定物が収容されたセルが配置されるセル配置部と、
前記光源部からの平行光束を前記被測定物に照射することにより発生する散乱光を前記集光レンズで集光して前記光検出器で検出させることで、前記被測定物に含まれる被測定粒子群の粒度分布を算出する制御部とを備える粒度分布測定装置であって、
前記光検出器には、光軸調整用検出面が形成されており、
前記光源部と前記光検出器とを結ぶ方向をX方向とし、X方向と垂直な一方向をY方向とし、Y方向とX方向とに垂直な方向をZ方向とした場合において、前記光検出器の検出面は、YZ平面と平行に配置されており、
前記光源部と前記セル配置部との間に配置され、前記光源部からの平行光束が入射する入射平面と、当該入射平面と平行でない出射平面とを有する光軸調整用レンズと、
前記光源部からの平行光束が前記入射平面に入射する角度が変化するように、前記光軸調整用レンズを回転させることが可能なレンズ駆動機構とを備え、
前記光軸調整用レンズは、Y方向から視ると入射平面と出射平面との間の角度が第一所定角度となっている第一レンズと、Z方向から視ると入射平面と出射平面との間の角度が第二所定角度となっている第二レンズとを有し、
前記レンズ駆動機構は、Y方向を回転軸として前記第一レンズを回転させるとともに、Z方向を回転軸として前記第二レンズを回転させることが可能となっていることを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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