特許
J-GLOBAL ID：201603015445229316

マイクロ慣性測定装置

発明者：
汪 滔

汪 滔 について


出願人/特許権者：
エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッド

エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッド について


代理人 (1件)： TRY国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-080735
公開番号（公開出願番号）：特開2016-148677
出願日： 2016年04月14日
公開日（公表日）： 2016年08月18日
要約：
【課題】雑音排除性が大幅に向上し、大きさと重さが大幅に軽減される慣性測定装置を提供する。【解決手段】マイクロ慣性測定装置は、ハウジング16と、センサモジュール12と、ダンパー14と、を含む。センサモジュール12は、剛体のセンサ支持部121と、剛体のセンサ支持部121上に実装された計測制御回路基板123と、計測制御回路基板123上に搭載された慣性センサと、を含む。慣性センサは、ジャイロスコープと加速度計とを含む。センサモジュール12は、ハウジング16の中に取り付けられている。ダンパー14は、ハウジング16に取り付けられるとともに、センサモジュール12とハウジング16の内壁面との間の隙間に位置している。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
ハウジングと、センサモジュールと、ダンパーと、を備え、 前記センサモジュールは、計測制御回路基板と、前記計測制御回路基板上に搭載された慣性センサと、を含むとともに、前記ハウジング内に収容されており、 前記ダンパーは、前記ハウジングに取り付けられているとともに、前記センサモジュールと前記ハウジングの内壁面との間の隙間に位置することを特徴とするマイクロ慣性測定装置。
IPC (1件)：
G01C 19/00
FI (1件)：
G01C19/00 Z
Fターム (5件)：
2F105AA03 ,  2F105BB03 ,  2F105BB04 ,  2F105BB13 ,  2F105BB17
引用特許：
審査官引用 (6件)
  • 多軸検出型振動ジャイロ
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-096493   出願人：株式会社村田製作所
  • 特開昭63-217787
  • 半導体装置及びその製造方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-104923   出願人：九州日本電気株式会社
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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