電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用銅合金薄板、電子・電気機器用部品及び端子

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：志賀正武 , 寺本光生 , 松沼泰史 , 細川文広 , 大浪一徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-173131
公開番号（公開出願番号）：特開2016-047945
出願日： 2014年08月27日
公開日（公表日）： 2016年04月07日
要約：

【課題】曲げ加工性、耐応力緩和特性に優れ、強度が高く従来よりも部品素材の薄肉化を図ることが可能な電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用部品及び端子を提供する。【解決手段】Niを1.0mass%以上5.0mass%以下、Siを0.1mass%以上1.5mass%以下含有し、残りがCuおよび不可避不純物からなり、Ni/Si(質量比)が2.0以上6.0以下の範囲内となる組成を有し、小傾角粒界およびサブグレインバウンダリーの長さをLLB、隣接する測定間の方位差が15°を超える測定点間である大傾角粒界の長さをLHB、Σ3、Σ9、Σ27a、Σ27b粒界の長さをLσとしたときに、以下の式が成り立つ。 Lσ/(LLB+LHB)>10% LLB/(LLB+LHB)>10% (LLB+Lσ)/(LLB+LHB)>40%【選択図】なし

請求項（抜粋）：

Niを1.0mass%以上5.0mass%以下、Siを0.1mass%以上1.5mass%以下含有し、残りがCuおよび不可避不純物からなり、Ni/Si(質量比)が2.0以上6.0以下の範囲内となる組成を有し、 EBSD法により1000μm2以上の測定面積を測定間隔0.1μmステップで測定して、データ解析ソフトOIMにより解析されたCI値が0.1以下である測定点を除いて解析し、隣接する測定間の方位差が2°以上15°以下となる測定点間である小傾角粒界およびサブグレインバウンダリーの長さをLLB、隣接する測定間の方位差が15°を超える測定点間である大傾角粒界の長さをLHB、Σ3、Σ9、Σ27a、Σ27b粒界の長さをLσとしたときに、以下の式が成り立つことを特徴とする電子・電気機器用銅合金。 Lσ/(LLB+LHB)>10% LLB/(LLB+LHB)>10% (LLB+Lσ)/(LLB+LHB)>40%

IPC (10件)：

C22C 9/06 , C22C 9/10 , C22C 9/05 , C22C 9/04 , C22C 9/01 , C22C 9/00 , C22F 1/08 , H01B 1/02 , H01B 5/02 , C22C 9/02

FI (10件)：

C22C9/06 , C22C9/10 , C22C9/05 , C22C9/04 , C22C9/01 , C22C9/00 , C22F1/08 B , H01B1/02 A , H01B5/02 Z , C22C9/02

Fターム (21件)：

5F067EA04 , 5G301AA01 , 5G301AA03 , 5G301AA07 , 5G301AA08 , 5G301AA09 , 5G301AA12 , 5G301AA13 , 5G301AA14 , 5G301AA19 , 5G301AA20 , 5G301AA21 , 5G301AA23 , 5G301AA24 , 5G301AB01 , 5G301AD03 , 5G301AD04 , 5G301AD05 , 5G301AE02 , 5G307CA04 , 5G307CB02

引用特許：

審査官引用 (2件)

特許第5565506号
特許第5189708号

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