特許
J-GLOBAL ID:201603015882821135

異常診断装置及びプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井上 誠一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-171561
公開番号(公開出願番号):特開2016-045861
出願日: 2014年08月26日
公開日(公表日): 2016年04月04日
要約:
【課題】未知故障の検出や要因解析を精度良く行うことができる異常診断装置等を提供する。【解決手段】異常診断装置は、基準データを取得し(ステップS1)、ステップS3において取得されるシステムの事前知識に基づいて、システムの監視モデルを学習する(ステップS4)。また、異常診断装置は、評価データを取得し、評価データと、監視モデルから導かれるデータとの特徴の違いの度合を示す再構成誤差を算出し、再構成誤差に基づいて、評価データの新規性の度合いを示す新規度を算出する。監視モデルは、任意のデータを入力すると、システムの事前知識を考慮したデータを再構成データとして出力するものである。異常診断装置は、評価データを監視モデルに入力して再構成データを取得し、評価データと再構成データとの差に基づいて再構成誤差を算出する。【選択図】図3
請求項(抜粋):
複数の信号の時系列データに基づいてシステムの異常を診断する異常診断装置であって、 基準データを取得し、前記システムの事前知識に基づいて、前記システムの監視モデルを学習する基準データ学習手段と、 評価データを取得し、前記評価データと、前記監視モデルから導かれるデータとの特徴の違いの度合を示す再構成誤差を算出する再構成誤差算出手段と、 前記再構成誤差に基づいて、前記評価データの新規性の度合いを示す新規度を算出する新規度算出手段と、 を具備することを特徴とする異常診断装置。
IPC (1件):
G05B 23/02
FI (1件):
G05B23/02 302S
Fターム (10件):
3C223AA16 ,  3C223BA03 ,  3C223BB12 ,  3C223CC02 ,  3C223DD03 ,  3C223FF04 ,  3C223FF22 ,  3C223FF26 ,  3C223GG01 ,  3C223HH03
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)
引用文献:
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