特許
J-GLOBAL ID:201603015972509327
光照射装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人クシブチ国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-008431
公開番号(公開出願番号):特開2016-142734
特許番号:特許第5978528号
出願日: 2016年01月20日
公開日(公表日): 2016年08月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 偏光した光を照射する光照射装置において、
光源と、
この光源の光を偏光し、光の一つ以上の波長において100:1以上10000:1以下の消光比を有する複数の装置側偏光子と、
検出側偏光子を有する偏光測定機構とを備え、
前記偏光測定機構は、前記装置側偏光子及び前記検出側偏光子を順に透過した光を、前記検出側偏光子の偏光軸角度を変えながら検出し、前記検出側偏光子の前記偏光軸角度を変えながら検出した光の光量の周期的な変化を示す変化曲線を求め、この変化曲線から前記装置側偏光子の偏光軸の方向を求め、この方向を求める手順を繰り返して、複数の装置側偏光子の全ての偏光軸の方向を求め、
前記偏光測定機構は、前記光照射装置から移動可能又は前記光照射装置と分離可能であることを特徴とする光照射装置。
IPC (5件):
G02F 1/1337 ( 200 6.01)
, H01L 21/027 ( 200 6.01)
, G01M 11/00 ( 200 6.01)
, G01J 4/04 ( 200 6.01)
, G02B 5/30 ( 200 6.01)
FI (5件):
G02F 1/133
, H01L 21/30 541 D
, G01M 11/00 T
, G01J 4/04 Z
, G02B 5/30
引用特許:
出願人引用 (6件)
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偏光方向測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-321774
出願人:ウシオ電機株式会社
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偏光測定方法、偏光測定装置、及び偏光測定システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-159211
出願人:岩崎電気株式会社
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偏光光照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-273804
出願人:東芝ライテック株式会社
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光配向照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2013-137899
出願人:岩崎電気株式会社
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特許第5105567号
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偏光子薄膜及びこの製作方法
公報種別:公表公報
出願番号:特願2009-524759
出願人:エーピーアイナノファブリケーションアンドリサーチコーポレーション
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審査官引用 (6件)
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偏光方向測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-321774
出願人:ウシオ電機株式会社
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偏光測定方法、偏光測定装置、及び偏光測定システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-159211
出願人:岩崎電気株式会社
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偏光光照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-273804
出願人:東芝ライテック株式会社
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光配向照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2013-137899
出願人:岩崎電気株式会社
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特許第5105567号
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偏光子薄膜及びこの製作方法
公報種別:公表公報
出願番号:特願2009-524759
出願人:エーピーアイナノファブリケーションアンドリサーチコーポレーション
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