特許
J-GLOBAL ID:201603016067166390
分析装置、分析方法およびコンピュータプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-162133
公開番号(公開出願番号):特開2013-024881
特許番号:特許第5995577号
出願日: 2012年07月20日
公開日(公表日): 2013年02月04日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料を分析する分析装置であって、
試料の測定を行うための測定用ハードウェアと、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
第1試料バイアルに収容された第1精度管理試料について精度管理測定の実施を促し、
前記測定用ハードウェアで実施された前記第1試料バイアルについての精度管理測定の結果を受け取り、
前記精度管理測定の結果が所定の範囲外の場合、第1試料バイアルについて再度精度管理測定の実施を促し、
再度実施した精度管理測定の結果が所定の範囲外の場合、前記制御部は、第1精度管理試料と同等の濃度の第2精度管理試料を含む第2試料バイアルについて精度管理測定の実施を促すように構成されている、分析装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許: